Surfix?SX?涂層測厚儀?

2025/08/08 10:26:42

Surfix®SX涂層測厚儀

涂層測厚儀Surfix®EX/Surfix®SX

現(xiàn)代涂層厚度測量：圖形顯示、PC 連接、簡單的操作以及經(jīng)過驗證的 PHYNIX 探頭

這種* PHYNIX 測量儀的突出特點是具有改進的文本顯示的絢麗彩色圖形顯示，并允許各種不同的操作語言。該標準現(xiàn)在包括英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、土耳其語、捷克語和中文。與 Surfix 系列相比，內(nèi)部存儲器大大擴大，現(xiàn)在可以存儲多達 2,000 個測量值。只需通過 USB 2.0 即可連接到計算機。PHYNIX.connect 是一個適用于所有現(xiàn)代 Windows 系統(tǒng)的數(shù)據(jù)傳輸程序，有助于將測量值傳輸?shù)?Excel 中。

有兩種型號可供選擇：Surfix® SX 可以連接到 PHYNIX 探頭程序中的所有探頭。這確保了盡可能高的靈活性，使設備能夠完成許多不同的測量任務。帶有固定標準探頭的 Surfix® EX 設備適用于明確定義測量任務的應用。與具有高質(zhì)量插件連接的 Surfix® SX 相比，它易于使用且更具成本效益。

技術規(guī)格

	Surfix® SX	Surfix® EX
規(guī)格	用于連接可更換的獨立探頭（可用探頭：參見單獨的傳單探頭）	外部固定探頭
測量范圍	取決于探頭	0 – 1,500 微米
準確性	取決于探頭，高 +/-（0.7 μm + 1 % 讀數(shù)）	+/-（1 μm + 讀數(shù)的 1 %）
解決	0.1 μm 或 < 0.2 % 讀數(shù)（使用標準探頭）	0.1 μm 或 < 0.2 % 讀數(shù)（使用標準探頭）
校準方法	工作校準、零位校準、單箔校準；零偏移	工作校準、零位校準、單箔校準；零偏移
統(tǒng)計數(shù)據(jù)	測量值個數(shù)、平均值、標準偏差、小和大測量值	測量值個數(shù)、平均值、標準偏差、小和大測量值
記憶	大限度。2.000 個讀數(shù)	大限度。2.000 個讀數(shù)
數(shù)據(jù)傳輸	USB 2.0	USB 2.0
展示	高分辨率彩色顯示器	高分辨率彩色顯示器
工作溫度	0°C 至 + 50°C	0°C 至 + 50°C
表面溫度	–15 °C 至 + 60 °C（標準） –15 °C 至 + 150 °C 或 300 °C（可選高溫支腳）	–15 °C 至 + 60 °C（標準） –15 °C 至 + 150 °C 或 300 °C（可選高溫支腳）
尺寸規(guī)	137 毫米 x 66 毫米 x 23 毫米	137 毫米 x 66 毫米 x 23 毫米
重量	205 克（包括 FN 1.5 探頭和電池）	205 克（包括 FN 1.5 探頭和電池）
防護等級	IP 52（防塵和防滴水）	IP 52（防塵和防滴水）
標準	DIN、ISO、ASTM、BS	DIN、ISO、ASTM、BS
保修單	2年	2年

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